| dc.description.abstract | Aden, Darin D.;
Bode, Timothy L.;
Boggs, John H.;
Borgwardt, James F.;
Borgwardt, John M.;
Christie, Aaron L.;
Doebler, Matthew D.;
Frey, Edward A.;
Gabb, Mark D.;
Geiger, MIchael G.;
Gierach, John P.;
Halldorson, Jeffrey J.;
Hein, Jonathan R.;
Helwig, Michael D.;
Johnson, Timothy W.;
Karow, David J.;
Kroll, Kevin V.;
Lange, Steven L.;
Mielke, N. Martin III;
Neumann, MIchael D.;
Nolte, Paul R.;
Otto, Timothy M.;
Pratt, Christopher K.;
Price, James K.;
Riedel, Roger G.;
Robbert, Robbin M.;
Rutschow, Paul D.;
Schmidt, Daniel J.;
Schnose, Johnathan C.;
Schultz, Donald G.;
Schulz, Joel A.;
Semro, Jonathan M.;
Sims, Daniel R.;
Spiegelberg, Thomas C. II;
Steinberg, Paul S.;
Steinbrenner, Aaron P.;
Strand, C. James;
Strutz, Nathan W.;
Tuttle, RIchard A.;
Vogt, Matthew J.;
Walters, Mark R.;
Warskow, David M.;
Wegner, Martin N.;
Williams, Robert D.;
Wolfgramm, Luke A.;
Zabell, Jon F. | en_US |
