| dc.description.abstract | Andresen, Ronald M.;
Biedenbender, Thomas W.;
Birsching, Paul R.;
Carmichael, Scott M.;
Carter, John C. Jr.;
Carter, William R.;
Cordes, Chris A.;
Crass, Matthew A.;
Dux, Leroy P.;
Ehlers, David M.;
Engdahl, Kenneth H. Jr.;
Ewald, Gregory E.;
Fischer, Victor J.;
Fritz, Lester G.;
Gurgel, Richard L.;
Hartmann, John C.;
Himm, Ricky M.;
Hirsch, Philip C.;
Janisch, Bruce A.;
Kelly, John A.;
Koschnitzke, Gary L.;
Krause, Daniel E.;
Kruschel, Christopher P.;
Marshall, Daniel R.;
Miller, John A.;
Nitz, Michael H.;
Nowicki, Steven D.;
Pankow, James W.;
Petermann, Joel V.;
Petersen, Keith E.;
Piepenbrink, Leon E.;
Pless, Joel L.;
Pochop, Kelly D.;
Raasch, Robert F.;
Reichel, David D.;
Schroeder, John A.;
Sellnow, David D.;
Soukup, Stephen P.;
Spaude, Martin P.;
Steele, Loren E.;
Tesch, Jon E.;
Vander Galien, Paul W.;
Warnecke, Rodney W.;
Wenzel, David R.;
Wessel, Mark W.;
Workentine, Paul M.;
Zarling, Tim F.;
Zimmerman, Eric J. | en_US |
