| dc.description.abstract | Adomeit, James A.;
Aufderheide, Stan M.;
Bader, P. William;
Bartsch, Mark O.;
Baur, Martin R.;
Belter, Dennis W.;
Brunner, Mark F.;
Busse, Carl J.;
Connell, James R.;
Cortright, Charles L.;
Eggert, Jan C.;
Gunn, Dean A.;
Guthmiller, Mark R.;
Hintz, Stephen C.;
Horner, Thomas H.;
Huffman, Roger W.;
Ibisch, Paul A.;
Jahn, Curtis A.;
Kelm, Daniel W.;
Kneser, Thomas W.;
Kraklow, Gary G.;
Krause, James H.;
Kruschel, Jonathan M.;
Laabs, Terry L.;
Langebartels, James L.;
Leyrer, Joel D.;
Meister, David W.;
Merten, Philip W.;
Nejahr, Lee A.;
Neumann, Roger L.;
Paustian, John H.;
Petersen, Timothy T.;
Pope, James F.;
Putz, David M.;
Reagles, Steven L.;
Rhyne, Robert Y.;
Schaefer, William J. II;
Schmitzer, Alois III;
Schnick, Thomas H.;
Schroeder, Mark G.;
Schuetze, John D.;
Schumacher, Raymond W.;
Schumann, James R.;
Schwanke, Glenn L.;
Smith, Mark H.;
Spencer, Steven D.;
Spreeman, Edward A.;
Steiner, Steven P.;
Tollefson, Donald L.;
Tullberg, Paul A.;
Unnasch, John F.;
Weber, Jeffrey A.;
Weir, Russell G.;
Woldt, Michael A.;
Zager, Paul R. | en_US |
