| dc.description.abstract | Baldauf, Paul R.;
Bater, Michael C.;
Behringer, James M.;
Berg, John W.;
Blobaum, Gerald G.;
Blumer, Steven P.;
Broehm, Dennis L.;
Covach, John W.;
Degner, Charles F.;
Dusek, Michael C.;
Edwards, Robert M.;
Frey, James A.;
Gibbons, Gregory D.;
Grant, Cary P.;
Guenther, Jon E.;
Hefti, Roy W.;
Hoyer, Philip J.;
Johnson, Gary R.;
Kanzenbach, Richard N.;
Kehl, David A.;
Kipfmiller, David A.;
Klein, Scott A.;
Kujath, Timothy M.;
Laitinen, Wayne A.;
Lehmann, Richard W.;
Lindloff, Thomas D.;
Mischke, Philip C.;
Naumann, Paul S.;
Otto, Steven J.;
Pavia, George R.;
Radunzel, Steven J.;
Schalow, Douglas A.;
Scherschel, Douglas R.;
Schultz, Anthony E.;
Schultz, Jonathan E.;
Seefeldt, Curtiss, W.;
Siirila, Robert A.;
Speidel, Thomas P.;
Stern, Jonathan D.;
Strackbein, John T.;
Strackbein, Philip B.;
Sutton, Donald P.;
Vilhauer, Dwight E.;
Weinrich, Stanley R.;
Wendland, Paul O.;
Wietzke, Bruce V.;
Wilke, Robert A.;
Wille, John C.;
Zander, Mark F.;
Zindler, Ronald F. | en_US |
