| dc.description.abstract | Ahlborn, Marvin J.;
Baerbock, Ronald E.;
Beyersdorf, Allen R.;
Busch, Rodney G.;
Degner, Steven C.;
Enderle, Jerome L.;
Engel, Michael L.;
Erstad, Duane H.;
Fleming, Dean H.;
Found, Charles D.;
Fredrich, Edward C., III;
Fritz, Loren D.;
Gruen, Darald A.;
Haeuser, David E.;
Hahm, Ronald E.;
Hannemann, Mark E.;
Hartman, Paul J.;
Heiderich, Paul G.;
Heige, Donald E.;
Henkel, Carl R.;
Hintz, Gerald C.;
Hochmuth, Donald F., Jr.;
Kaminski, Leroy L.;
Kiecker, David J.;
Kirchner, William C.;
Klemp, Carlton W.;
Klessig, Alan R.;
Koeninger, Philip J.;
Koepsell, Arthur G.;
Lenz, Gregory P.;
Leyrer, Carl W., IV;
Luetke, Daniel P.;
Martin, John E., II;
Mehlberg, Ronald W.;
Naumann, James W.;
Naumann, Peter J.;
Pagel, David F.;
Plitzuweit, James A.;
Prahl, Herbert H.;
Raabe, Richard G., Jr.;
Schaeffer, Jean-Louis;
Schmidt, Dennis W.;
Schmiege, Paul A.;
Schroeder, Neal D.;
Schwerin, Philip J.;
Seifert, John C.;
Smith, Dennis D.;
Waege, David W.;
Wenzel, Kenneth L.;
Werner, Paul J.;
Wiederich, Larry L.;
Wiley, Quincy;
Willitz, John D.;
Zeitler, John C.;
Ziemer, Carl W., Jr. | en_US |
